微型LED是以柔克刚下一代高端呈现技术的核心元件，搭载微型LED的国科晶圆必须达到100%的良率，否则将会给终端产品造成巨大的研人员填修复成本。然而，补微外汇平台xm代理业界却一直没有找到晶圆接触式无损检查的晶圆技术好方法。近日，无损我国科研人员用“以柔克刚”的测试方法填补了这一技术空白。
旧有的空白晶圆良率检查方法有的如“铁笔刻玉”，会造成晶圆表面不可逆的以柔克刚物理损伤；有的则只能“观其大概”，存在较高的国科漏检率和错检率。良率无损检查的研人员填xm外汇平台登录技术空白严峻阻碍了大面积呈现屏、柔性呈现屏等微型LED终端产品的补微量产。
近日，晶圆技术天津大学精密测试技术及仪器全国核心实验室、无损精仪学院感知科学与工程系黄显教授团队打破了微型LED晶圆测试瓶颈，测试实现了微型LED晶圆高通量无损测试，xm外汇平台怎样研究成果于13日在国际学术期刊《自然-电子学》刊发。
研究团队第一次倡导了一种基于柔性电子技术的检查方法，该方法构建的三维架构柔性探针阵列，凭借其“以柔克刚”的特性能对测量对象表面形貌进行自适应形变，并以0.9兆帕的“呼吸级压力”轻触晶圆表面。
“该技术的探针接触压力仅为旧有刚性探针的万分之一，不但不会造成晶圆表面磨损，也降低了探针本身的磨损，探针在100万次接触测量后，依然‘容颜如初’。”黄显说。
此外，团队还研发了与三维柔性探针相匹配的测量平台。通过探针和检查平台的协同工作，为微型LED产品的高效工艺运维和良品筛选供给关键软件。
“我们实现了从零到一的突破，填补了微型LED电致发光检查的技术空白，也为其他复杂晶圆检查供给了革命性技术计划，随着探针阵列规模与检查通道的连续拓展，将来或将在晶圆级集成检查、生物光子学等领域产生更普遍作用。”黄显说。
据悉，目前该技术已在天开高教科创园开启产品化进程，将来将为国内微型LED产业供给批量化、无损、低成本的检查处理计划，进一步拓展柔性电子技术的软件领域。
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